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納米白光干涉儀 表面細(xì)微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準(zhǔn)確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù)，適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。
產(chǎn)品型號(hào)：PZ-Mico D
瀏覽量：618
3D光學(xué)輪廓測量儀使用Sensofar技術(shù)開發(fā)的neox光學(xué)輪廓儀，其共聚焦部分的主要優(yōu)點(diǎn)是有著*發(fā)光效率的照明硬件和高對比度算法。這些特點(diǎn)使系統(tǒng)成為測量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有異種材料樣品的理想設(shè)備。高品質(zhì)干涉光學(xué)系統(tǒng)和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關(guān)鍵。這項(xiàng)技術(shù)對于測量非常光滑至適度粗糙的表面比較理想。這些技術(shù)的組合為neox輪廓儀提供了無限寬廣的應(yīng)用領(lǐng)域。
產(chǎn)品型號(hào)：PZ-3000S瀏覽量：5457
3D光學(xué)輪廓顯微鏡使用光學(xué)輪廓儀，集成了共聚焦計(jì)數(shù)和干涉測量技術(shù)，并具有薄膜測量能力，該系統(tǒng)可以用于標(biāo)準(zhǔn)的明場彩色顯微成像，共焦成像，三維共焦建模，PSI、VSI及高分辨率薄膜厚度測量。
產(chǎn)品型號(hào)：PZ-3010D瀏覽量：2277
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